Контактный микрометр Аббе

Кроме оптических измерительных приборов, немецкий инженер Эрнст Аббе разработал конструкцию контактного микрометра. Этот прибор предназначался для точного измерения длин различных предметов. Чем отличался контактный микрометр Аббе от применявшегося и получившего в то время широкое распространение штангенциркуля? При всех своих преимуществах штангенциркуль обладал весьма существенным недостатком: в случае расположения шкалы и измеряемого предмета не на одной прямой при измерении возникала ошибка первого порядка, величина которой была тем больше, чем больше при одних и тех же условиях было расстояние между предметом и шкалой. Уменьшая это расстояние, мы будем уменьшать и возможную ошибку, которая будет равной нулю, когда предмет и шкала, с которыми производится сравнение, будут расположены на одной прямой. Это положение было впервые высказано Аббе в 1890 г. на съезде в Бремене. Оно легло в основу устройства ряда измерительных приборов, сконструированных фирмой К. Цейсс в Йене. Одним из таких приборов был контактный микрометр Аббе. Устроен он был следующим образом. На достаточно массивном основании расположена стойка с цилиндрическими или призматическими направляющими, вдоль которых под действием собственного веса может перемещаться с очень небольшим трением стальной стержень. Нижний конец этого стержня соприкасается с плоской поверхностью стеклянной или кварцевой пластинки, помещенной в соответствующем углублении основания. При помощи трех винтов верхняя поверхность пластинки может быть установлена перпендикулярно к оси подвижного стержня. Для уменьшения давления, оказываемого стержнем на измеряемый предмет, положенный на пластинку, стержень снабжается противовесом. В верхней части стержня наносятся на протяжении 50 мм через 0,1 мм деления, которые отсчитываются в микроскоп, снабженный окулярным винтовым микрометром. Штрихи, соответствующие целым миллиметрам, отмечены цифрами. Микроскоп имеет 50-кратное увеличение. С задней стороны прибора помещено плоское зеркало, при помощи которого пучок лучей через отверстие в стойке может быть направлен параллельно плоскости пластинки. Общая ошибка измерения при использовании микрометра Аббе слагается из ошибок винта микрометра, ошибки при считывании делений шкалы, колебаний температуры и индивидуальных ошибок наблюдателя.

Контактный микрометр Аббе.

Контактный микрометр Аббе