Поиск |
Контактный микрометр АббеКроме оптических измерительных приборов, немецкий инженер Эрнст Аббе разработал конструкцию контактного микрометра. Этот прибор предназначался для точного измерения длин различных предметов. Чем отличался контактный микрометр Аббе от применявшегося и получившего в то время широкое распространение штангенциркуля? При всех своих преимуществах штангенциркуль обладал весьма существенным недостатком: в случае расположения шкалы и измеряемого предмета не на одной прямой при измерении возникала ошибка первого порядка, величина которой была тем больше, чем больше при одних и тех же условиях было расстояние между предметом и шкалой. Уменьшая это расстояние, мы будем уменьшать и возможную ошибку, которая будет равной нулю, когда предмет и шкала, с которыми производится сравнение, будут расположены на одной прямой. Это положение было впервые высказано Аббе в 1890 г. на съезде в Бремене. Оно легло в основу устройства ряда измерительных приборов, сконструированных фирмой К. Цейсс в Йене. Одним из таких приборов был контактный микрометр Аббе. Устроен он был следующим образом. На достаточно массивном основании расположена стойка с цилиндрическими или призматическими направляющими, вдоль которых под действием собственного веса может перемещаться с очень небольшим трением стальной стержень. Нижний конец этого стержня соприкасается с плоской поверхностью стеклянной или кварцевой пластинки, помещенной в соответствующем углублении основания. При помощи трех винтов верхняя поверхность пластинки может быть установлена перпендикулярно к оси подвижного стержня. Для уменьшения давления, оказываемого стержнем на измеряемый предмет, положенный на пластинку, стержень снабжается противовесом. В верхней части стержня наносятся на протяжении 50 мм через 0,1 мм деления, которые отсчитываются в микроскоп, снабженный окулярным винтовым микрометром. Штрихи, соответствующие целым миллиметрам, отмечены цифрами. Микроскоп имеет 50-кратное увеличение. С задней стороны прибора помещено плоское зеркало, при помощи которого пучок лучей через отверстие в стойке может быть направлен параллельно плоскости пластинки. Общая ошибка измерения при использовании микрометра Аббе слагается из ошибок винта микрометра, ошибки при считывании делений шкалы, колебаний температуры и индивидуальных ошибок наблюдателя. Контактный микрометр Аббе. ![]() |